Crédito Fisical Review Letters/Changlin Zen et al.
En la microscopia confocal de
electrones se ha introducido fuera del eje de exploración cromática, una técnica
que permite el rápido mapeo de los electrones inelásticos dispersos en un
microscopio de trasmisión electrónica de barrido, sin un espectrómetro.
Principio en que se basa la microscopio confocal. Crédito: Wikimedia Commons
La microscopia confocal es una técnica de observaciones microscópicas
que está logrando excelentes resultados en diversas ramas de la ciencia, como
ser: medicina, biología, geología, materiales, etc. Su éxito se debe a las
ventajas que ofrece frente a la microscopía óptica tradicional al lograr imágenes
con mayor nitidez y contraste, mayor resolución vertical y horizontal, y en
especial, a la posibilidad de obtener secciones ópticas de la muestra,
permitiendo un estudio tridimensional.
Microscopía
electrónica confocal fuera de eje se puede utilizar para obtener imágenes de
electrones inelásticamente esparcidos por la superficie de un material,
abriendo la puerta a ayudar la cartografía química tridimensional a escala
nanométrica. Crédito Fisical Review Letters/Changlin Zen et al.
En cuanto a la dispersión inelástica, es el nombre dado a un proceso utilizado
para analizar el interior de los hadrones (en particular a los bariones, como
ser los protones y los neutrones), utilizando electrones, neutrinos y muones,
lo que proporcionó en su oportunidad la convincente evidencia de los quarks.
Dispersión inelástica profunda de un leptón en un hadrón
El modo confocal de fuera del eje
permite que los electrones de manera inelástica dispersos cromáticamente tanto
paralelos y perpendiculares al eje óptico. Esto permite a los electrones con
diferentes pérdidas de energía a ser separados y detectados en el plano de la
imagen, permitiendo el filtrado eficiente de la energía en un modo confocal con
un detector de integración.
Se describe la configuración
experimental y se demuestra el método con la cartografía química del núcleo de
pérdida a nanoescala de plata (M4 , 5) En una aleación de
aluminio y plata y las imágenes a escala atómica de la baja intensidad de
núcleo-La pérdida (M4 , 5@ 840 eV) Señal en LaB6. Se
utilizaron las tasas de escaneo de hasta 2 órdenes de magnitud más rápidos que
los métodos convencionales, lo que permite una reducción correspondiente en la
dosis de radiación y aumento en el campo de visión. Si el conjunto con la
profundidad mejorada y resolución lateral de la configuración confocal es incoherente,
esto ofrece un enfoque para la cartografía química tridimensional a nanoescala.
Los autores de la investigación son
Changlin Zhen del Centro Monash de Microscopía Electrónica de la Universidad de Monash,
Victoria, Australia; de Ye Zhu del Departamento de Ingeniería de Materiales de la Universidad de Monash,
Australia; Sorin Lazar de FEI Óptica Electrónica Eindhoven, Países Bajos y
Joanne Etheridge del Centro de Microscopia Electronica y del Depto. de Ingeniería
de Materiales de la
Universidad de Monash, Australia.
El trabajo se
encuentra en Physical Review Letters del 22 de abril de 2014 DOI:http://dx.doi.org/10.1103/PhysRevLett.112.166101
Fuente: Physical Review Letters / Wikipedia-Wikimedia Commons
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