miércoles, 23 de abril de 2014

RÁPIDAS IMÁGENES DE ELECTRONES INESLÁTICAMENTE DISPERSOS POR FUERA DEL EJE CROMÁTICO EN LA MICROSCOPÍA ELECTRÓNICA

Crédito Fisical Review Letters/Changlin Zen et al.

En la microscopia confocal de electrones se ha introducido fuera del eje de exploración cromática, una técnica que permite el rápido mapeo de los electrones inelásticos dispersos en un microscopio de trasmisión electrónica de barrido, sin un espectrómetro.


Principio en que se basa la microscopio confocal. Crédito: Wikimedia Commons

La microscopia confocal es una técnica de observaciones microscópicas que está logrando excelentes resultados en diversas ramas de la ciencia, como ser: medicina, biología, geología, materiales, etc. Su éxito se debe a las ventajas que ofrece frente a la microscopía óptica tradicional al lograr imágenes con mayor nitidez y contraste, mayor resolución vertical y horizontal, y en especial, a la posibilidad de obtener secciones ópticas de la muestra, permitiendo un estudio tridimensional.
Microscopía electrónica confocal fuera de eje se puede utilizar para obtener imágenes de electrones inelásticamente esparcidos por la superficie de un material, abriendo la puerta a ayudar la cartografía química tridimensional a escala nanométrica. Crédito Fisical Review Letters/Changlin Zen et al.

En cuanto a la dispersión inelástica, es el nombre dado a un proceso utilizado para analizar el interior de los hadrones (en particular a los bariones, como ser los protones y los neutrones), utilizando electrones, neutrinos y muones, lo que proporcionó en su oportunidad la convincente evidencia de los quarks.

Dispersión inelástica profunda de un leptón en un hadrón

El modo confocal de fuera del eje permite que los electrones de manera inelástica dispersos cromáticamente tanto paralelos y perpendiculares al eje óptico. Esto permite a los electrones con diferentes pérdidas de energía a ser separados y detectados en el plano de la imagen, permitiendo el filtrado eficiente de la energía en un modo confocal con un detector de integración. 
Se describe la configuración experimental y se demuestra el método con la cartografía química del núcleo de pérdida a nanoescala de plata (M4 , 5) En una aleación de aluminio y plata y las imágenes a escala atómica de la baja intensidad de núcleo-La pérdida (M4 , 5@ 840   eV) Señal en LaB6. Se utilizaron las tasas de escaneo de hasta 2 órdenes de magnitud más rápidos que los métodos convencionales, lo que permite una reducción correspondiente en la dosis de radiación y aumento en el campo de visión. Si el conjunto con la profundidad mejorada y resolución lateral de la configuración confocal es incoherente, esto ofrece un enfoque para la cartografía química tridimensional a nanoescala.

Los autores de la investigación son Changlin Zhen del Centro Monash de Microscopía Electrónica de la Universidad de Monash, Victoria, Australia; de Ye Zhu del Departamento de Ingeniería de Materiales de la Universidad de Monash, Australia; Sorin Lazar de FEI Óptica Electrónica Eindhoven, Países Bajos y Joanne Etheridge del Centro de Microscopia Electronica y del Depto. de Ingeniería de Materiales de la Universidad de Monash, Australia.

Fuente: Physical Review Letters / Wikipedia-Wikimedia Commons

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